Федеральное государственное автономное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования

Академия стандартизации, метрологии и сертификации

Москва

Учредитель: Росстандарт
Федеральное агентство
по техническому регулированию
и метрологии

109443, Москва

Волгоградский проспект, дом 90, корпус 1

+7 (499) 172-46-90

Оптико-физические измерения

Учитывая увеличение потребности страны в специалистах по метрологическому обеспечению оптико-физических измерений, стандартизации и сертификации средств неразрушающего контроля, светотехнической и оптической продукции, принимая во внимание высокий научно-технический потенциал ВНИИОФИ, приказом Академии № 2 от 31.01.95 года на базе ВНИИОФИ была создана кафедра «Оптико-физические измерения (ОФИ)».

Первоначально на кафедре было 3 человека: заведующий, доцент и методист. За кафедрой были закреплены семь специализаций по поверке и калибровке средств измерений оптико-физических и медицинского назначения, сертификации светотехнической и оптической продукции, а также средств неразрушающего контроля.

В настоящее время на кафедре работают: заведующий кафедрой, 2 профессора, 2 доцента, 1 методист.

Кафедра проводит свою лекционную и практическую работу совместно с другими кафедрами АСМС, лабораториями и отделами ВНИИОФИ. . Предполагается организовать дистанционное обучение через Интернет.

Используется практика краткосрочных стажировок слушателей Академии в лабораториях ВНИИОФИ, где специалисты института знакомят обучающихся с последними разработками в интересующей их области измерений (лаборатории фотометрии, лазерной техники, томографии, волоконной оптики, офтальмологии, нанотехнологий и т.д.).

Проводятся работы по маркетингу и пропаганде научных и учебно-методических возможностей кафедры ОФИ АСМС на различных всероссийских и ведомственных конференциях в области фотометрии, радиометрии, обеспечения единства измерений в медицине и здравоохранении, реклама на сайтах Академии (asms.ru) и кафедры (alab.ru)

Сотрудниками кафедры за последний 5 лет подготовлено свыше 25 публикаций и монографий, в том числе Учебное пособие «Метрологическое обеспечение нанотехнологий и контроля наноматериалов».

В учебный процесс внедряется факультетский принцип переподготовки слушателей, когда помимо системы обеспечения единства оптико-физических измерений слушателям читаются лекции по законодательной метрологии, современным тенденциям в области сертификации и оценки соответствия, стандартизации в области метрологии, основам технического регулирования системы качества и т.д.

Для реализации учебных программ кафедра привлекает ведущих специалистов других кафедр академии, ведущих специалистов Федерального агенства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт). Мы благодарны этим специалистам за сотрудничество и надеемся на его продолжение.

Кафедра проводит также научно-исследовательские работы в области оптико-физических измерений. Проводится подготовка аспирантов на кафедре.